Hammer Hochschule meldet erstes Patent an

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René Krenz-Baath leitet den Studiengang „Intelligent Systems Design“. Er entwickelte die flexible Testinfrastruktur für Mikrochips.

Hamm/Lippstadt - Von der Kamera über Fahrzeuge bis zu komplexen Produktionsanlagen: Zahlreiche technische Geräte nutzen Mikrochips. Doch wie lässt sich sicherstellen, dass die winzigen Plättchen reibungslos funktionieren? Ein Professor an der Hochschule Hamm-Lippstadt hat nun eine Testinfrastruktur für Mikrochips erfunden, die dafür sorgen soll. Die HSHL hat sie zur Patentanmeldung eingereicht. 

Prof. Dr. René Krenz-Baath leitet den Studiengang „Intelligent Systems Design“ an der Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL). Innerhalb eines Forschungsprojekts hat er eine neuartige flexible Testinfrastruktur für Mikrochips erfunden, die genauer als bisher Tests der Chips ermöglicht und dabei Kosten und Zeit spart. Besonders wichtig ist diese Erfindung im Bereich der autonomen Steuerung, zum Beispiel beim autonomen Fahren. Mit Hilfe der Testinfrastruktur lassen sich die Mikrochips untersuchen, die in den Fahrzeugen genutzt werden. So steigt die Betriebssicherheit. Die HSHL hat die Erfindung zur Patentanmeldung eingereicht - als erste in der Geschichte der jungen Hochschule. 

Krenz-Baath stellt seine Forschungsergebnisse zurzeit auf der größten Konferenz im Bereich Electronic Design Automation (EDA) in Europa vor, der internationalen DATE (Design, Automation and Test in Europe) Conference in Dresden. 

Es ist üblich und in vielen Fällen durch ISO-Normen und andere Auflagen gefordert, Mikrochips mit Teststrukturen auszustatten. Diese erlauben es, die hochintegrierten elektronischen Schaltungen, bei denen mehrere Milliarden Bauelemente auf einer kleinen Siliziumscheibe integriert sind, nach der Produktion zu testen. 

So unterläuft beispielsweise jeder Mikrochip in einem Mobiltelefon schon vor dem Verkauf einen solchen Test, um sicherzustellen, dass der Chip funktioniert. Bislang sind diese Tests oft langwierig und generieren ein hohes Datenvolumen. Das verursacht bis zu 50 Prozent der Gesamtproduktionskosten. Noch schwieriger ist der Test von Mikrochips, die schon in Betrieb sind. Sie dürfen die Funktionen des Mikrochips nicht beeinträchtigen und kosten zusätzlich. 

Der von Krenz-Baath entwickelte Mikrochip weist im Gegensatz zu den bisher verfügbaren eine Vielzahl gleichzeitig rekonfigurierbarer Teststrukturen auf. Besonders flexibel wird der neu entwickelte Chip durch einen Zwischenspeicher sowie variable Möglichkeiten zur Komprimierung und Dekomprimierung von Daten. Tests sind dadurch schneller möglich – gleich nach der Produktion und im Einsatz. „Wir wollen uns auf die Technik verlassen können, genau dafür braucht es Möglichkeiten für Selbsttests im Bereich von Millisekunden. Durch die Zeitersparnis können defekte Bauelemente schneller entdeckt werden, was bei kleiner werdenden Mikrochips von hoher Bedeutung ist“, erklärt der Wissenschaftler. 

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